2025年5月20日至21日在吉林大学举办“2025表面分析技术之飞行时间二次离子质谱研讨会”

2025表面分析技术飞行时间二次离子质谱研讨会5月20-21日 ● 吉林大学为促进表面分析技术领域的学术交流，推动二次离子质谱仪（SIMS）技术的创新与应用，展示相关的新成就、新进展，ULVAC-PHI将携手吉林大学于2025年5月20日至

12月19-20日，“PHI 2024年全国表面分析技术研讨会”在上海市成功召开。会议邀请了表面分析领域的技术专家和研究学者，共同为大家带来有关XPS、TOF-SIMS和AES等最前沿技术进展及其在多学科中的应用的学术交流。