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PHI 受邀参加 Eurofins EAG(欧陆埃文思)材料分析技术研讨会

发布日期:2025-07-14 13:50:56   浏览量 :3
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Eurofins EAG材料分析技术研讨会(重庆)


1、Eurofins EAG技术分享  

  - SIMS(二次离子质谱)技术:原理、应用及案例解析。  

  - GDMS(辉光放电质谱)技术:材料成分深度分析解决方案。  

  - TEM(透射电子显微镜)技术:微观结构表征与前沿应用。  


2、特邀专家报告  

  - 鞠焕鑫 博士(爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司 应用与市场总监)  

    主题:《XPS和AES能谱技术及其应用》  

    - X射线光电子能谱(XPS)与俄歇电子能谱(AES)技术原理。  

    - 表面分析在材料科学、电子工业等领域的应用实例。  




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