上篇介绍了俄歇电子能谱（AES）的定性分析、定量分析及化学态分析功能，本篇我们将继续分享更多AES高级功能，其中包括表面形貌观察、深度分析及显微分析。

俄歇电子能谱仪（AES），作为表面分析技术领域的纳米探针，在固体材料表面纳米尺度的元素成分分析及形貌表征方面发挥着重要作用。

X-射线光电子能谱（XPS）和俄歇电子能谱（AES）都是广泛应用于材料元素组成的表面分析技术，分别通过光电子特征峰和俄歇电子特征峰识别元素。然而，XPS全谱中常出现俄歇峰伴峰，为帮助大家更好理解XPS的俄歇峰和AES俄歇谱，本文将对两者的产生机制、谱图特征及核心差异进行详细阐述。

TOF-SIMS在研究中作为关键表征手段，通过高表面灵敏和大分子量碎片检测能力，直接验证了SAB中共价键聚合物网络的形成。