为持续提升客户服务质量、增强技术人员专业能力,并与客户携手发挥表面分析设备的最大效用,由爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司主办的 “2025 ULVAC-PHI TOF-SIMS用户培训班”近日在南京顺利举办。
本次培训在ULVAC-PHI南京实验室举办,现场配有全球领先的飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)和硬X射线光电子能谱仪(HAXPES)设备。在为期四天的培训中,爱发科费恩斯应用工程师围绕TOF-SIMS技术原理、硬件结构、样品制备方法、测试参数优化、数据分析、高阶功能与维护等核心内容,为学员带来了一场体系完备、理论与实践深度融合的专业培训。
现场直击:专注、互动与交流的精彩瞬间
培训首日,ULVAC-PHI应用与市场总监鞠焕鑫博士作开场致词。随后,应用工程师杨欧与丁志琴从TOF-SIMS的基础原理与技术特点出发,系统梳理设备结构、样品制备与常规维护等知识,帮助学员们夯实理论基础。
应用与市场总监鞠焕鑫博士开场致词
应用工程师杨欧讲解TOF-SIMS原理与技术特点
应用工程师丁志琴讲解TOF-SIMS分析条件选择
后续课程聚焦于表面分析、成像分析、深度分析以及多种样品测试,深入讲解了分析条件的选择与测试参数的优化等关键流程。应用工程师不仅演示了 “如何操作”,更深入阐释了“为何如此操作”,精准回应了学员对不同领域的专业需求,并对可能影响实验准确性的关键细节逐一详细说明。
TOF-SIMS样品现场测试与数据分析
培训结束后,ULVAC-PHI为学员颁发了结业证书,以肯定他们在培训期间的积极学习和收获。此外,培训专设的答疑环节,针对学员在实际检测中遇到的个性化问题展开深入交流,并提供系统的解决方案。
结束语
TOF-SIMS作为一种高灵敏的表面分析技术,能够获取表面、薄膜以及界面区域的元素和分子信息,并且给出完整的三维分析。作为表面分析仪器领域的领先厂商,ULVAC-PHI始终致力于推动表面分析技术的发展,提升科学应用能力,构建多元化的技术培训模式,为行业发展持续注入新动力。